第一章 单元测试

1、 问题:本征半导体在温度升高后,( )。
选项:
A:自由电子和空穴数目都不变
B:自由电子和空穴数目都增加且增量相同
答案: 【
自由电子和空穴数目都增加且增量相同

2、 问题:在杂质半导体中,温度变化时,( )。
选项:
A:载流子的数目变化;
B:少子与多子变化的数目不相同;
C:少子与多子浓度的变化相同。
答案: 【
载流子的数目变化;

3、 问题:当PN结达到动态平衡时,参与扩散运动的载流子数目( )漂移运动的载流子数目。
选项:
A:大于
B:等于
C:小于
答案: 【
等于

4、 问题:电路如图所示,ui=0.1sinωt(V),当直流电源电压V增大时,二极管UD的动态电阻rd将 ( )
选项:
A:增大
B:减小
C:保持不变

答案: 【
减小

5、 问题:工作在放大状态的三极管,三个极的电流关系是( )
选项:
A:IC=IB+IE
B:IE=IB+IC
C:IE=βIC
D:IE=βIB
答案: 【
IE=IB+IC

第二章 单元测试

1、 问题:放大电路的静态是指( )。
选项:
A:输入端开路时的电路状态
B:输入端短路时的状态
C:输入信号幅值不变化时的电路状态
D:输入信号为直流时的电路状态
答案: 【
输入端短路时的状态

2、 问题:放大缓慢变化的直流信号,可以选择( )
选项:
A:直接耦合放大电路
B:阻容耦合放大电路
答案: 【
直接耦合放大电路

3、 问题:放大电路的输出电阻和负载电阻有关。( )
选项:
A:对
B:错
答案: 【

4、 问题:已知输入为中频小信号,画直流通路时,( )
选项:
A:无内阻的信号源视为短路
B:电感视为开路
C:电容视为短路
答案: 【
无内阻的信号源视为短路

5、 问题:稳定静态工作点的方法除了引入直流负反馈,还可以采用温度补偿的方法。( )
选项:
A:对
B:错
答案: 【

第三章 单元测试

1、 问题:集成放大电路采用直接耦合方式的原因是( )
选项:
A:便于设计
B:放大交流信号
C:不易制作大容量电容
答案: 【
不易制作大容量电容

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