绪论 单元测试

1、 问题:

模拟信号的每一个物理量都有明确的物理意义。

选项:
A:对
B:错
答案: 【


第一章 单元测试

1、 问题:

N 型半导体中如果掺入足够量的三价元素,可将其改型为P 型半导体。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

2、 问题:

因为N 型半导体的多子是自由电子,所以它带负电。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

3、 问题:

PN 结在无光照、无外加电压时,结电流为零。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

4、 问题:

处于放大状态的晶体管,集电极电流是多子漂移运动形成的。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

5、 问题:

PNP管工作于放大区的偏置条件是发射结正偏导通,集电结反偏。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

6、 问题:

晶体管工作于放大区时,流过发射结的电流主要是扩散电流。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

7、 问题:

 PN 结加正向电压时,空间电荷区将( )

选项:
A:变窄
B:基本不变
C:变宽
答案: 【
变窄

8、 问题:

稳压管的稳压区是其工作在( )

选项:
A:正向导通
B:反向截止
C:反向击穿
答案: 【
反向击穿

9、 问题:

当晶体管工作在放大区时,发射结电压和集电结电压应为( )

选项:
A:前者反偏、后者也反偏
B:前者正偏、后者反偏
C:前者正偏、后者也正偏
答案: 【
前者正偏、后者反偏

10、 问题:

当一个Si材料PN结外加反向电压时,它的耗尽层变宽,势垒增强。因此,其扩散电流为(

选项:
A:0mA
B:无穷大
C:毫安数量级
D:微安数量级
答案: 【
0mA

第二章 单元测试

1、 问题:

只有电路既放大电流又放大电压,才称其有放大作用。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

2、 问题:

电路中各电量的交流成分是交流信号源提供的。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

3、 问题:

放大电路必须加上合适的直流电源才能正常工作。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

4、 问题:

由于放大的对象是变化量,所以当输入直流信号时,任何放大电路的输出都毫无变化。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

5、 问题:

只要是共射放大电路,输出电压的底部失真都是饱和失真。

选项:
A:对
B:错
答案: 【

6、 问题:

直接耦合放大电路存在零点漂移的原因是(  )

选项:
A:电阻阻值有误差
B:晶体管参数的分散性 
C:晶体管参数受温度影响
D:电源电压不稳 
答案: 【
晶体管参数受温度影响

7、 问题:

集成放大电路采用直接耦合方式的原因是(   )

选项:
A:便于设计
B:放大交流信号
C:不易制作大容量电容 
答案: 【
不易制作大容量电容 

8、 问题:

选用差动放大电路的原因是(   )

选项:
A:克服温漂
B:提高输入电阻
C:稳定放大倍数 
答案: 【
克服温漂

9、 问题:

差动放大电路的差模信号是两个输入端信号的(   )

选项:
A:
B:
C:平均值 
答案: 【

10、 问题:

共模信号是两个输入端信号的(   )

选项:
A:
B:
C:平均值 
答案: 【
平均值 

11、 问题:

用恒流源取代长尾式差动放大电路中的发射极电阻,将使单端电路的(   )

选项:
A:差模放大倍数数值增大
B:抑制共模信号能力增强 
C:差模输入电阻增大 
答案: 【
抑制共模信号能力增强 

第三章 单元测试

1、 问题:

集成运放电路采用直接耦合方式是因为(  )

选项:
A:可获得很大的放大倍数
B:可使温漂小
C:集成工艺难于制造大容量电容 
答案: 【
集成工艺难于制造大容量电容 

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