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第一章 单元测试

1、 问题:

衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小，而与晶胞中的原子位置无关。

选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

2、 问题:

有一倒易矢量为g=2a+2b+c。

选项：
A:210
B:220
C:221
D:110
答案: 【
221
】

3、 问题:

下列条件不属于X射线发生衍射的必要条件。

选项：
A:厄瓦尔德图解
B:布拉格方程
C:衍射矢量方程
D:劳埃方程+约束性方程
答案: 【
布拉格方程
】

4、 问题:

根据晶带轴理论，同一晶带的各晶面与晶带轴的关系为。

选项：
A:垂直
B:平行
C:以60度相交
D:角度不确定
答案: 【
平行
】

5、 问题:M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称。
选项：
A:Kα
B:Kβ
C:Kγ
D:Lα
答案: 【
Kβ
】

6、 问题:

有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。

选项：
A:3
B:4
C:5
D:6
答案: 【
4
】

7、 问题:

体心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是。

选项：
A:4
B:8
C:6
D:12
答案: 【
8
】

8、 问题:

利用XRD进行分析，下列说法不正确的是。

选项：
A:利用谢乐公式计算晶粒大小时晶粒尺寸一般<100nm
B:根据衍射峰的峰位进行定性分析
C:衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关
D:θ越大，得到的点阵常数越精确
答案: 【
衍射峰的峰强只与材料中该样品的含量有关
】

9、 问题:用CuKα辐射（λ=0.154 nm）照射Ag（面心立方）求其点阵常数，测得第一衍射峰位置38°，下列说法正确的是。
选项：
A:根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）
B:Ag的点阵常数为0.410nm
C:根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°
D: α=β=γ=90°
答案: 【
根据消光条件，Ag的第一衍射峰为（111）
Ag的点阵常数为0.410nm
根据条件可知，Ag的第一衍射峰对应的θ为19°
 α=β=γ=90°
】

10、 问题:已知Ni对CuKα和CuKβ辐射的质量吸收系数分别为49.03和290cm2/g，若将CuKα辐射的强度降低至入射时的70％需要使用多厚的Ni滤波片。
选项：
A:0.008mm
B:0.008cm
C:0.001mm
D:0.001cm
答案: 【
0.008mm
】

第二章 单元测试

1、 问题:单晶衍射花样中所有斑点对应的晶面属于同一个晶带。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

2、 问题:SAED照片中多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

3、 问题:与X射线衍射相比，电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

4、 问题:电子衍射常作为透射电镜的附件使用，请叙述观察薄膜样品的基本要求有（     ）。
选项：
A: 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
B:样品相对于电子束必须有足够的透明度
C:薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏
D:薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化
答案: 【
 在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀
样品相对于电子束必须有足够的透明度
薄膜样品应有一定强度和刚度，在制备、夹持和操作过程中不会引起变形和损坏
薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同，在制备过程中，组织结构不变化
】

5、 问题:电子衍射分析只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

6、 问题:计算晶面（111）和（100）的晶带轴指数？
选项：
A:[01-1]
B: [0-1-2]
C: [210]
D:[211]
答案: 【
[01-1]
】

7、 问题:有关电子衍射说法正确的是（）。
选项：
A:入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。
B:只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
C:只关心衍射斑点的位置,不关心强度。
D:只能观察薄膜样品的结构，不能与形貌观察有机结合起来。
答案: 【
入射电子束、衍射电子束与产生衍射的晶面近乎平行。
只适用于材料表层或薄膜样品的结构分析。
只关心衍射斑点的位置,不关心强度。
】

8、 问题:电子衍射花样中，任一衍射斑点到透射斑点的距离可以近似看作对应倒易矢量的放大像，放到倍数为相机常数。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

9、 问题:由于晶体的倒易点阵是三维点阵，如果电子束沿晶带轴[uvw]的反向入射时，通过原点O的倒易平面只有一个，这个二维平面叫做零层倒易面。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

10、 问题:电子衍射操作时采用薄晶样品，可以使衍射晶面和透射电子显微镜入射电子束之间的夹角不精确符合布拉格条件仍能产生衍射。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】

第三章 单元测试

1、 问题:透射电子显微镜的成像信号来自于透射电子。
选项：
A:对
B:错
答案: 【
对
】